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CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針台

更新時間:2020-07-06

簡要描述:

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針台CL係列探針台可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動 ;

可升級做射頻,大電流方麵的測試和激光修複應用

 

 

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針台特點 / 應用


 

 滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.


 

 最大可用於8英寸以內樣品測試


 

 同軸絲杠傳動結構,線性移動


 

兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動


 

可升級做射頻,大電流方麵的測試和激光修複應用


 

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針台

台體規格

尺寸

4英寸/6英寸/8英寸

水平旋轉

可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程

4英寸*4英寸/6英寸*6英寸

X-Y移動精度

10微米/1微米

樣品台Z軸調節

可升降10mm

樣品固定

真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環

針座平台

U型針座平台,最多可放置6個探針座

背電極測試

樣品台電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極

外形尺寸

400mm長*400mm寬*600mm高/580mm長*480mm寬*600mm高

重量

約40千克/60千克

 

 

光學係統:

 

顯微鏡類型

單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移動行程

X-Y軸行程2英寸*2英寸,Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環形光源/同軸光源

CCD

200萬像素/500萬像素/1200萬像素

 

 

探針座

 

X-Y-Z移動行程

12mm*12mm*12mm

移動精度

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

吸附方式

磁力吸附/真空吸附

線纜

同軸線/三軸線

漏電精度

10pA/100fA/10fA

固定探針

彈簧固定/管狀固定

接頭類型

BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

針尖直徑

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

針尖材質

鎢鋼/鈹銅

 

 

 

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