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CINDBEST CH-8|8~12“ 探針台測試係統

更新時間:2020-07-06

簡要描述:

CINDBEST CH-8|8~12“ 探針台測試係統最大可用於12英寸以內樣品測試;

操作便捷,功能其全,高效精準 ;

可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

CINDBEST CH-8|8~12“ 探針台測試係統

特點/應用

 最大可用於12英寸以內樣品測試

 

同軸絲杠傳動結構,線性移動

 

大手柄驅動,操作舒適,無回程差設計

 

針座平台快速、微調升降功能

 

可搭配多種類型顯微鏡

 

晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

 

結構模塊化設計,可無縫升級

 

探針台可根據客戶要求定製。

 

 

CINDBEST CH-8|8~12“ 探針台測試係統台體規格

型號

CH-8/CH-12

樣品台尺寸

8英寸/12英寸

水平旋轉

可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程

8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

X-Y移動精度

10微米/1微米

樣品固定

真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環

針座平台

U型針座平台,最多可放置10個探針座

平台升降

可快速升降6mm/可微調升降25mm

背電極測試

樣品台電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極

外形尺寸

840mm長*600mm寬*700mm高/950mm長*700mm寬*700mm高

重量

約100千克/150千克

 

 

光學係統

顯微鏡類型

單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移動行程

X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉,Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環形光源/同軸光源

CCD

200萬像素/500萬像素/1200萬像素

 

 

定位器

X-Y-Z移動行程

12mm*12mm*12mm

移動精度

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

吸附方式

磁力吸附/真空吸附

線纜

同軸線/三軸線

漏電精度

10pA/100fA/10fA

固定探針

彈簧固定/管狀固定

接頭類型

BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

針尖直徑

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

針尖材質

鎢鋼/鈹銅

 

 

可選附件

加熱台

顯示器

轉接頭

射頻測試配件

屏蔽箱

光學平台

鍍金卡盤

光電測試配件

高壓測試配件

顯微鏡快速傾仰裝置

激光係統

探針卡夾具


 

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