更新時間:2020-07-06
CH-12綜合性分析探針台測試係統最大可用於12英寸以內樣品測試;操作便捷,功能其全,高效精準 ;可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
CH-12綜合性分析探針台測試係統特點/應用
最大可用於12英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構,線性移動
大手柄驅動,操作舒適,無回程差設計
針座平台快速、微調升降功能
晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
結構模塊化設計,可無縫升級
探針台可根據客戶要求定製。
CH-12綜合性分析探針台測試係統測試係統
最大可用於12英寸以內樣品測試;
操作便捷,功能其全,高效精準 ;
可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
台體規格:
型號 | CH-8/CH-12 |
樣品台尺寸 | 8英寸/12英寸 |
水平旋轉 | 可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置 |
X-Y移動行程 | 8英寸*8英寸/12英寸*12英寸 |
X-Y移動精度 | 10微米/1微米 |
樣品固定 | 真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環 |
針座平台 | U型針座平台,最多可放置10個探針座 |
平台升降 | 可快速升降6mm/可微調升降25mm |
背電極測試 | 樣品台電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極 |
外形尺寸 | 840mm長*600mm寬*700mm高/950mm長*700mm寬*700mm高 |
重量 | 約100千克/150千克 |
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