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CH-12綜合性分析探針台測試係統

更新時間:2020-07-06

簡要描述:

CH-12綜合性分析探針台測試係統最大可用於12英寸以內樣品測試;

操作便捷,功能其全,高效精準 ;


可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

CH-12綜合性分析探針台測試係統特點/應用

最大可用於12英寸以內樣品測試

同軸絲杠傳動結構,線性移動

大手柄驅動,操作舒適,無回程差設計

針座平台快速、微調升降功能

晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

結構模塊化設計,可無縫升級

探針台可根據客戶要求定製。

CH-12綜合性分析探針台測試係統測試係統

 

最大可用於12英寸以內樣品測試;

操作便捷,功能其全,高效精準 ;

 

可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

 

台體規格:

型號

CH-8/CH-12

樣品台尺寸

8英寸/12英寸

水平旋轉

可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程

8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

X-Y移動精度

10微米/1微米

樣品固定

真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環

針座平台

U型針座平台,最多可放置10個探針座

平台升降

可快速升降6mm/可微調升降25mm

背電極測試

樣品台電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極

外形尺寸

840mm長*600mm寬*700mm高/950mm長*700mm寬*700mm高

重量

約100千克/150千克

 

 

 

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