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CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針台

更新時間:2020-07-06

簡要描述:

CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針台最大可用於8英寸以內樣品測試 ;

可滿足500度高溫測試 ;

溫度穩定性高 ;兼容IV/CV/RF測試

CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針台

最大可用於8英寸以內樣品測試 ;

可滿足500度高溫測試 ;

溫度穩定性高 ;兼容IV/CV/RF測試

CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針台

 

特點/應用

 

最大可用於8英寸以內樣品測試

 

同軸絲杠傳動結構,線性移動

 

可滿足500度高溫測試

 

溫度穩定性高

 

兼容IV/CV/RF測試

 

結構設計簡單合理,操作方便

 

探針台可根據客戶要求定製

 

台體規格:

型號

CJ-4/CJ-6/CJ-8

樣品台尺寸

4英寸/6英寸/8英寸

水平旋轉

可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程

4英寸*4英寸/6英寸*6英寸/8英寸*8英寸

X-Y移動精度

10微米/1微米

樣品固定

真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環

針座平台

U型針座平台,最多可放置8個探針座

背電極測試

樣品台電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極

溫度範圍

室溫到300度/室溫到400度/室溫到600度

溫控精度

1度/0.1度/0.01度

穩定性

±1度/±0.1度

外形尺寸

400mm長*400mm寬*600mm高/580mm長*480mm寬*600mm高/840mm長*600mm寬*700mm高

重量

約30千克/60千克/100千克

 

 

 

光學係統:

顯微鏡類型

單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移動行程

X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉,Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環形光源/同軸光源

CCD

200萬像素/500萬像素/1200萬像素

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