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CBTZ-3100Z型自動對位探針台

更新時間:2020-07-09

簡要描述:

CBTZ-3100Z型自動對位探針台操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。

它與測試儀連接後,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試 。

CBTZ-3100Z型自動對位探針台

能對晶片實現自動對位測試,

操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。

它與測試儀連接後,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試 。

CBTZ-3100Z型自動對位探針台

 主要技術參數

 可測片型:3 inch 4 inch

測試矽片單元尺寸:20—200 mil

定位精度:≤ ±0.01mm/110mm

自動對準精度:±0.01mm

誤測率:≤ 1 ‰

全自動對位時間:≤ 15 s

測試速度 45 mil   5.0 pcs/s

50 mil   4.6 pcs/s

87 mil   4.2 pcs/s

步進分辨率:0.001

Z向行程:05mm 可調

承片台轉角θ調節範圍:±20o

 


對晶片實現自動對位測試,操作簡單,
快捷,測試精度高,具有MAP顯示功
能。它與測試儀連接後,能自動完成
對各種晶體管芯的電參數測試及功能
測試 。

操作方式

自動對位探針台
提供了清晰直觀的觸屏操作頁麵,
手觸點擊即可完成對晶片的自動對
位測試。

機器軟件的操作界麵

 

除此之外還提供了更加簡潔 

便的小鍵盤操作方式,操作者可依據

個人偏好和習慣選擇任意種操作 

功能小鍵盤

機器功能

具有自動掃描對位功能,對位精度
高、速速快,Windows7界麵,動態map
圖顯示測試過程。

具有圓形測試,範圍重測,探邊
測試,範圍打點,回收測試,矩形
測試和脫機打點多種測試功能。
具有X、Y、Z三軸運動結構,操作軟
件能對垂直度、平麵度進行精度補償,保
證機器的控製精度和工作的穩定性。
具有實時打點、脫機打點和滯
後打點功能。新型打點器,使用時
間長達3天,不滴墨,省去60%的操作時間。
具有Z軸行程分段運動功能,其
分為基本高度、接觸高度、接觸緩衝、
過衝高度和折回高度,並且具有探邊
功能,防止測試過程中探針對芯片的
劃傷和探針與芯片的接觸不良。
測試針痕比例圖片(反光白點為針痕)

多個芯粒                            單個芯粒


 

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