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日置3504-40電容測試儀

更新時間:2020-11-13

簡要描述:

日置3504-40電容測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
高速測量2ms
能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

日置3504-40電容測試儀

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

高速測量2ms
能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件

 

日置3504-40電容測試儀

 基本參數

測量參數Cs,Cp(電容),D(損耗係數tanδ)
測量範圍C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本精度(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各係數
測量頻率120Hz, 1kHz
測量信號電平恒壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V
測量範圍:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
輸出電阻5Ω(CV測量範圍以外的開路端子電壓模式時)
顯示發光二級管 (6位表示,滿量程計算器根據量程而定)
測量時間典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
功能BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控製用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標配), GP-IB接口(3504-40除外)
電源AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大110VA
體積及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件電源線×1,預備電源保險絲×1,使用說明書×1

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