RM1000反射膜厚儀

RM1000反射膜厚儀

 擴展折射率指數測量極限

向日葵app下载安装色板的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調整進行準確的單光束反射率測量，光學布局的高光導允許對n和k進行重複測量，對粗糙表麵進行測量以及對非常薄的薄膜進行厚度測量。

紫外-近紅外光譜範圍

RM 1000 430 nm – 930 nm

RM 2000 200 nm – 930 nm

高分辨率自動掃描

反射儀RM 1000和RM 2000可以選配x-y自動掃描台和自動掃描軟件、用於小光斑尺寸的物鏡和攝像機。

RM1000反射膜厚儀

反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測量具有光滑或粗糙表麵的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單層或層疊膜的厚度、消光係數和折射率指數。在紫外-可見光- 近紅外光譜範圍內，可以分析5nm～50μm厚度的單層膜、層疊膜和基片。

RM 1000和RM 2000代表SENTECH反射儀。台式裝置包括高度穩定的光源、具有自動準直透鏡和顯微鏡的反射光學部件、高度和傾斜可調的樣品台、光譜光度計和電源。它可以選配x-y自動掃描台和自動掃描軟件、用於小光斑尺寸的物鏡和攝像機。

除了膜厚和光學常數之外，向日葵app下载安装色版的反射儀還可以測量薄膜(例如，AlGaN on GaN，SiGe on Si)、防反射塗層(例如，紋理矽太陽能電池上的防反射塗層、紫外敏感GaN器件上的防反射塗層)，以及小型醫用支架上的防反射塗層。該反射儀支持在微電子、微係統技術、光電子、玻璃塗層、平板技術、生命科學、生物技術等領域的應用。